Difracție cu raze X pentru cercetarea materialelor: De la fundamente la aplicații

Recenzii ale cititorilor

Cartea este apreciată ca o excelentă resursă introductivă pentru difracția de raze X, potrivită pentru studenții universitari și pentru cei noi în domeniu. Ea oferă o bună înțelegere fundamentală fără a copleși cititorul cu detalii matematice sau tehnice excesive.

Bine adaptat pentru începători, explicații conceptuale clare, evită complexitatea matematică excesivă, echipează cititorii cu terminologia adecvată, servește ca un bun precursor pentru texte mai avansate.

Lipsesc îndrumările instrumentale detaliate și tehnicile avansate de analiză a datelor, care pot necesita resurse suplimentare sau texte mai specializate ulterior.

(pe baza a 1 recenzii ale cititorilor)

Titlul original:

X-Ray Diffraction for Materials Research: From Fundamentals to Applications

Conținutul cărții:

Difracția de raze X este o tehnică de analiză utilă și puternică pentru caracterizarea materialelor cristaline utilizate în mod obișnuit în MSE, fizică și chimie. Această nouă carte informativă descrie principiile difracției de raze X și aplicațiile sale la caracterizarea materialelor. Ea constă din trei părți. Prima tratează cristalografia elementară și optica, care este esențială pentru înțelegerea teoriei difracției de raze X discutată în a doua parte a cărții. Partea a doua descrie modul în care difracția de raze X poate fi aplicată pentru caracterizarea diferitelor forme de materiale, cum ar fi filmele subțiri, monocristalele și pulberile. A treia secțiune a cărții acoperă aplicațiile difracției de raze X.

Cartea prezintă o serie de exemple pentru a ajuta cititorii să înțeleagă mai bine subiectul. De asemenea, X-Ray Diffraction for Materials Research: From Fundamentals to Applications.

- oferă cunoștințe de bază despre difracție pentru a permite nespecialiștilor să se familiarizeze cu subiectele.

- acoperă aplicațiile practice, precum și principiul de bază al difracției de raze X.

- prezintă exemple adecvate cu răspunsuri pentru a ajuta cititorii să înțeleagă mai ușor conținutul.

- include caracterizarea filmelor subțiri prin difracție de raze X cu tehnici experimentale relevante.

- prezintă un număr foarte mare de grafice elaborate pentru a ajuta la ilustrarea conținutului.

Cartea va ajuta cititorii (studenți și cercetători în știința materialelor, fizică și chimie) să înțeleagă cristalografia și structurile cristaline, interferența și difracția, analiza structurală a materialelor în vrac, caracterizarea straturilor subțiri și măsurarea nedistructivă a tensiunii interne și a tranziției de fază.

Difracția este un fenomen optic și, prin urmare, poate fi mai bine înțeles atunci când este explicat cu o abordare optică, care a fost neglijată în alte cărți. Această carte ajută la umplerea acestui gol, furnizând informații pentru a transmite conceptul de difracție a razelor X și modul în care acesta poate fi aplicat la analiza materialelor.

Această carte va fi o carte de referință valoroasă pentru cercetătorii din domeniu și va funcționa bine ca o bună carte introductivă a difracției de raze X pentru studenții în știința materialelor, fizică și chimie.