Fizica și ingineria fiabilității: Modelarea timpului până la defecțiune

Recenzii ale cititorilor

Cartea este lăudată pentru acoperirea cuprinzătoare a fizicii fiabilității, cu accent pe fiabilitatea circuitelor integrate (CI). Este bine structurată, începând cu conceptele fundamentale și progresând spre subiecte complexe, susținută de exemple din lumea reală și probleme practice.

Explicație aprofundată a fizicii fiabilității, excelentă pentru aplicații inginerești, accent puternic pe fiabilitatea IC, abordare fundamentală în termodinamică, exemple practice și probleme pentru o mai bună înțelegere.

Nici unul menționat în recenzii.

(pe baza a 4 recenzii ale cititorilor)

Titlul original:

Reliability Physics and Engineering: Time-To-Failure Modeling

Conținutul cărții:

Oferă un manual cuprinzător privind fizica fiabilității semiconductorilor, de la fundamente la aplicații.

Explică fundamentele fizicii fiabilității și instrumentele de inginerie pentru construirea unor produse mai bune.

Conține instruire și instrumente statistice în cadrul textului.

Include capitole noi privind fizica degradării și degradarea indusă de rezonanță și rezonanță.