Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials (Introducere în elipsometria spectroscopică a materialelor subțiri): Instrumentație, analiza datelor și aplicații

Titlul original:

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications

Conținutul cărții:

Un text unic care oferă o introducere în utilizarea elipsometriei spectroscopice pentru caracterizarea materialelor noi

În Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis and Applications, o echipă de cercetători eminenți oferă o explorare incisivă a modului în care tehnica experimentală tradițională a elipsometriei spectroscopice este utilizată pentru a caracteriza proprietățile intrinseci ale materialelor noi. Cartea se concentrează pe dicalcogenurile bidimensionale ale metalelor de tranziție (2D-TMD), importante din punct de vedere științific și tehnologic, pe oxizii magnetici precum materialele manganite și pe supraconductorii neconvenționali, inclusiv sistemele de oxid de cupru.

Autorii distinși discută despre caracterizarea proprietăților, cum ar fi structurile electronice, proprietățile interfaciale și dinamica cvasiparticulelor în materiale cuantice noi. Împreună cu studii de caz ilustrative și specifice privind modul în care elipsometria spectroscopică este utilizată pentru a studia proprietățile optice și cvasiparticulare ale sistemelor noi, cartea include: Introduceri aprofundate la principiile de bază ale elipsometriei spectroscopice și ale sistemelor puternic corelate, inclusiv oxizi de cupru și manganiți Explorări cuprinzătoare ale dicalcogenurilor bidimensionale de metale de tranziție Discuții practice ale sistemelor de grafen cu un singur strat și ale sistemelor de nichelat Examinări aprofundate ale potențialelor evoluții și aplicații viitoare ale elipsometriei spectroscopice

Perfect pentru studenții la nivel de masterat și doctorat în fizică și chimie, Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials va câștiga, de asemenea, un loc în bibliotecile celor care studiază știința materialelor care caută o referință unică pentru aplicațiile elipsometriei spectroscopice la materialele noi dezvoltate.