Modeling Methods of Optical Inhomogeneous Structures
Lucrarea ar fi utilă specialiștilor în domeniul elipsometriei și inginerilor implicați în măsurarea suprafeței rugoase și în determinarea proprietăților structurilor sau filmelor neomogene, cum ar fi: oxizi polimorfi de titan sau vanadiu, nitrură de siliciu după oxidare, defecte de creștere a filmului MBE.
Lucrarea ar fi utilă pentru toți cei care doresc să îmbunătățească calitatea estimării parametrilor doriți; cu condiția ca experimentatorul să utilizeze noul algoritm al procedurii de minimizare cu analiza statistică a unui set de soluții găsite și variația pas cu pas a limitelor simplex care restrâng domeniul valorilor dorite.
© Book1 Group - toate drepturile rezervate.
Conținutul acestui site nu poate fi copiat sau utilizat, nici parțial, nici integral, fără permisiunea scrisă a proprietarului.
Ultima modificare: 2024.11.08 07:02 (GMT)