Metode de testare pentru detectarea defectelor în circuitele electronice

Titlul original:

Testing Methods For Fault Detection In Electronic Circuits

Conținutul cărții:

Această carte include două metodologii de testare bazate pe senzori încorporați (BIS) și o tehnică bazată pe optimizare. Prima parte propune doi noi senzori încorporați (BIS) pentru testarea circuitelor digitale CMOS și analogice.

BIS-urile nu au nicio degradare de tensiune, sunt capabile să detecteze, să identifice și să localizeze defectele de circuit deschis și scurtcircuit, au realizări simple, cu o suprafață și un timp de detecție foarte mici. BIS este utilizat pentru a testa o celulă de multiplicator 4x4, unde toate defectele injectate sunt detectate și localizate. Celălalt BIS este dedicat testării circuitelor analogice.

Acesta este aplicat pentru a testa două blocuri de construcție analogice bine cunoscute: amplificatorul operațional cu reacție de curent (CFOA) și amplificatorul operațional cu rezistență (OTRA). BIS propus testează caracteristicile terminale ale blocurilor analogice.

Se fac simulări pentru a testa un filtru analogic universal bazat pe CFOA și un filtru universal bazat pe OTRA. A doua parte propune un algoritm de testare pentru detectarea defectelor parametrice simple și duble în circuitul analogic prin estimarea valorilor reale ale parametrilor CUT.

Algoritmul este aplicat unui filtru trece bandă de ordinul doi Sallen-Key, iar simulările arată că toate defectele injectate sunt detectate și diagnosticate corect.