Metrologie optică în câmp complet și aplicații

Metrologie optică în câmp complet și aplicații (Fernando Mendoza-Santoyo)

Titlul original:

Full Field Optical Metrology and Applications

Conținutul cărții:

Metodele și tehnicile de metrologie optică în câmp complet au existat încă de la primele experimente de interferometrie realizate de Thomas Young în secolul al XIX-lea. Această carte prezintă mai în detaliu tehnicile optice fără contact bazate pe efectul speckle. De asemenea, aceasta acoperă metrologia suprafețelor și explorează alte caracteristici legate de suprafață, cum ar fi deformarea, tensiunea, vibrația, conturul și deplasările x, y și z ale acesteia (cuplate ca vectori în 2D și 3D). În plus, cartea prezintă metode moderne pentru recuperarea fazei, tomografia în coerență optică (OCT) și metoda Moir.

Cartea ia în considerare fundamentele teoretice și explorează o serie de aplicații pentru metrologia optică în câmp complet, despre care se știe că sunt utilizate pe scară largă în multe domenii de interes, cum ar fi biomedicina, controlul calității, teledetecția și sondarea, precum și proiectarea producției.

Oamenii de știință și inginerii care caută o carte de referință care să ofere lucrări detaliate privind metodele / tehnicile în metrologia bazată pe speckle în câmp complet sunt publicul cheie pentru acest text.

Caracteristici principale

⬤ Furnizează bazele pe subiectul clasic al interferometriei.

⬤ Examinează mai multe aplicații pentru metrologia optică în câmp complet care sunt cunoscute a fi utilizate pe scară largă în multe domenii de interes, cum ar fi biomedicina, controlul calității, teledetecția și sondarea, precum și proiectarea producției.

⬤ Include o descriere completă a metodologiei de realizare a interferometriei digitale 3D holografice / speckle și a holografiei electronice, ambele nefiind disponibile în alte texte.

Alte date despre carte:

ISBN:9780750330251
Autor:
Editura:
Limbă:engleză
Legare:Copertă dură
Anul publicării:2022
Numărul de pagini:338

Cumpărare:

Disponibil în prezent, pe stoc.

Alte cărți ale autorului:

Metrologie optică în câmp complet și aplicații - Full Field Optical Metrology and...
Metodele și tehnicile de metrologie optică în câmp complet...
Metrologie optică în câmp complet și aplicații - Full Field Optical Metrology and Applications

Lucrările autorului au fost publicate de următorii editori:

© Book1 Group - toate drepturile rezervate.
Conținutul acestui site nu poate fi copiat sau utilizat, nici parțial, nici integral, fără permisiunea scrisă a proprietarului.
Ultima modificare: 2024.11.08 07:02 (GMT)