O introducere în spectrometria de masă cu ioni secundari cu timp de zbor (Tof-Sims) și aplicarea sa la știința materialelor

Recenzii ale cititorilor

În prezent, nu există recenzii ale cititorilor. Evaluarea se bazează pe 2 voturi.

Titlul original:

An Introduction to Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (Tof-Sims) and Its Application to Materials Science

Conținutul cărții:

Studiul materiei întunecate, atât în astrofizică, cât și în fizica particulelor, a apărut ca una dintre cele mai active și interesante teme de cercetare din ultimii ani.

Această carte trece în revistă istoria descoperirii masei lipsă (sau a masei nevăzute) din Univers și face legătura cu extensiile propuse la Modelul standard al fizicii particulelor (cum ar fi supersimetria), care au fost propuse în aceeași perioadă. Această carte este scrisă ca o introducere la aceste probleme de vârf ale astrofizicii și fizicii particulelor, cu scopul de a transmite fizica materiei întunecate studenților începători din domeniile științifice.

Cartea descrie în continuare experimentele și tehnicile existente și viitoare, care vor fi utilizate pentru detectarea directă sau indirectă a materiei întunecate.