Practica TOF-SIMS: Spectrometria de masă cu ioni secundari în timp de zbor

Titlul original:

The Practice of TOF-SIMS: Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

Conținutul cărții:

Spectrometria de masă cu ioni secundari în timp de zbor, TOF-SIMS, este o tehnică analitică foarte sensibilă la suprafață, care furnizează informații despre compoziție cu o rezoluție laterală submicronică. Pentru anumite materiale, TOF-SIMS oferă o sensibilitate de neegalat împreună cu o reproductibilitate excelentă, iar ca tehnică de spectrometrie de masă, oferă și o specificitate excelentă.

Dintre metodele analitice disponibile, este una dintre cele mai sensibile la suprafață, dar principiile fizice care stau la baza acesteia sunt și cele mai puțin înțelese. Acest volum descrie instrumentația, principiile fizice care stau la baza tehnicii, în măsura în care acestea sunt înțelese, și oferă o abordare practică pentru interpretarea datelor TOF-SIMS.

Utilizarea metodelor avansate de prelucrare a datelor, cum ar fi statisticile multivariate, sunt descrise într-o manieră ușor accesibilă. Având în vedere o pregătire de bază în domeniul chimiei și fizicii, cartea va fi utilă oricărui student interesat de această tehnică.