Prelucrarea cantitativă a datelor în microscopia cu sondă de scanare: Aplicații Spm pentru nanometrologie

Titlul original:

Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy: Spm Applications for Nanometrology

Conținutul cărții:

Măsurarea exactă la scară nanometrică - nanometrologia - este un instrument esențial pentru aplicațiile nanotehnologice avansate, în care cantitățile exacte și precizia tehnică depășesc capacitățile tehnicilor și instrumentelor de măsurare tradiționale.

Microscopia cu sondă de scanare (SPM) construiește o imagine a unui specimen prin scanarea cu o sondă fizică; nefiind limitată de lungimea de undă a luminii sau a electronilor, rezoluția obținută cu această tehnică poate rezolva atomi. Instrumentele SPM includ microscopul cu forță atomică (AFM) și microscopul cu efect tunel de scanare (STM).

În ciuda progreselor extraordinare înregistrate în microscopia cu sondă de scanare (SPM) în ultimii douăzeci de ani, potențialul acesteia ca instrument de măsurare cantitativă nu a fost pe deplin valorificat, din cauza unor provocări precum complexitatea interacțiunii dintre vârf și eșantion. În această carte, Petr Klapetek utilizează cele mai recente cercetări pentru a debloca SPM ca un set de instrumente pentru nanometrologie în domenii diverse precum nanotehnologia, fizica suprafețelor, ingineria materialelor, optica filmelor subțiri și științele vieții. Experiența considerabilă a lui Klapetek în prelucrarea cantitativă a datelor, utilizând instrumente software, îi permite nu numai să explice tehnicile de microscopie, ci și să demistifice analiza și interpretarea datelor colectate.

Pe lângă principiile esențiale și teoria metrologiei SPM, Klapetek pune la dispoziția cititorilor o serie de exemple de lucru pentru a demonstra modalități tipice de rezolvare a problemelor în analiza SPM. Datele sursă pentru exemple, precum și majoritatea instrumentelor software open source descrise sunt disponibile pe un site web însoțitor.