Sisteme de fascicule de ioni focalizate: Bazele și aplicațiile

Recenzii ale cititorilor

În prezent, nu există recenzii ale cititorilor. Evaluarea se bazează pe 3 voturi.

Titlul original:

Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications

Conținutul cărții:

Sistemul cu fascicul ionic focalizat (FIB) este un instrument important pentru înțelegerea și manipularea structurii materialelor la scară nanometrică.

Combinarea acestui sistem cu un fascicul de electroni creează un DualBeam - un singur sistem care poate funcționa ca instrument de imagistică, analiză și modificare a probelor. Prezentând principiile, capacitățile, provocările și aplicațiile tehnicii FIB, acest volum editat, publicat pentru prima dată în 2007, acoperă în mod cuprinzător tehnologia fasciculului ionic, inclusiv DualBeam.

Sunt abordate principiile de bază ale fasciculului de ioni și ale sistemelor cu două fascicule, interacțiunea acestora cu materialele, gravarea și depunerea, precum și caracterizarea materialelor in situ, pregătirea probelor, reconstrucția tridimensională și aplicațiile în biomateriale și nanotehnologie. Având în vedere că materialele nanostructurate devin din ce în ce mai importante în dispozitivele micromecanice, electronice și magnetice, această trecere în revistă de sine stătătoare a gamei de metode cu fascicule de ioni, a avantajelor acestora și a momentului cel mai potrivit pentru punerea lor în aplicare este o resursă valoroasă pentru cercetătorii din domeniul științei materialelor, ingineriei electrice și nanotehnologiei.