Spectrometria de masă cu ioni secundari: Aplicații pentru profilarea adâncimii și caracterizarea suprafeței

Recenzii ale cititorilor

În prezent, nu există recenzii ale cititorilor. Evaluarea se bazează pe 2 voturi.

Titlul original:

Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization

Conținutul cărții:

Această carte a fost scrisă pentru a explica o tehnică care necesită înțelegerea a numeroase detalii pentru a obține și interpreta corect datele obținute.

De asemenea, ea va servi drept referință pentru cei care trebuie să furnizeze date SIMS. Cartea are peste 200 de figuri, iar referințele permit urmărirea dezvoltării SIMS și înțelegerea numeroaselor detalii ale tehnicii.