An Optical Profilometer for Ultra HighVacuum Conditions - Design, Construction, and Implementation
Pentru a înțelege lumea noastră, este esențial să cunoaștem legile naturii. De-a lungul secolelor, aceste legi au fost deduse din măsurători, dar există încă o mulțime de întrebări deschise.
Una dintre aceste întrebări deschise este măsurarea exactă a profilelor în condiții foarte curate, care este rezolvată prin prezenta carte. Această carte descrie în detaliu proiectarea, construcția și punerea în aplicare a unui profilometru optic care poate măsura profiluri de suprafață complexe în condiții de vid foarte înalt. Profilul suprafeței (în vid) este obținut prin scanarea unui senzor optic printr-un vizor.
Instrumentul a fost proiectat cu scopul de a caracteriza plachete de siliciu deformate electrostatic. Pentru a îndoi plachetele selectate în forma necesară, este necesar un câmp electric reglabil de până la 25 MV/m.
Pentru a preveni pătrunderea câmpului electrostatic, este necesar un mediu UHV curat. Această carte ar trebui să fie interesantă pentru oamenii de știință, ingineri și oricine este interesat de măsurare.
© Book1 Group - toate drepturile rezervate.
Conținutul acestui site nu poate fi copiat sau utilizat, nici parțial, nici integral, fără permisiunea scrisă a proprietarului.
Ultima modificare: 2024.11.08 07:02 (GMT)