Cercetări științifice în domeniul microscopiei cu forță atomică

Titlul original:

Scientific Researches in Atomic Force Microscopy

Conținutul cărții:

Această carte elucidează cercetările științifice din domeniul microscopiei cu forță atomică.

Inventarea microscopului cu forță atomică (AFM) a adus schimbări drastice în domeniul analizei suprafețelor. Acesta s-a dovedit a fi o resursă și o metodă de investigație esențială, utilizată pentru studiul calitativ și cantitativ al suprafețelor cu rezoluții sub nanometrice.

În plus, probele analizate prin intermediul acestui microscop nu necesită proceduri de pregătire prealabilă. Acest lucru previne orice alterări sau efecte adverse care ar putea deteriora proba, permițând în același timp un studiu tridimensional al suprafeței exterioare. Această carte prezintă cele mai recente lucrări ale maeștrilor acestei metode din întreaga lume.

Această metodă a fost ușor acceptată în obținerea de informații importante într-un spectru divers de domenii. De la înființarea sa în 1986, ea a găsit multiple utilizări în domeniile producției, cercetării și progresului.