Microscopie electronică cu baleiaj și microanaliză cu raze X: Ediția a treia

Recenzii ale cititorilor

Cartea despre microscopia electronică cu baleiaj (SEM) este foarte apreciată ca fiind o resursă cuprinzătoare și accesibilă atât pentru începători, cât și pentru utilizatorii experimentați. Ea acoperă principiile fundamentale și detaliile tehnice în mod clar și concis, ceea ce o face o alegere excelentă pentru cei care lucrează cu SEM. În timp ce cartea este lăudată pentru organizarea, ilustrațiile și profunzimea informațiilor sale, unii cititori observă că poate fi uneori verbose și există probleme minore cu livrarea și starea.

Stil de scriere clar și concis, bine ilustrat, structură organizată, acoperă atât fundamentele, cât și conținutul tehnic detaliat, potrivit atât pentru începători, cât și pentru utilizatorii experimentați, material de referință excelent, preț rezonabil.

Oarecum verbose uneori, întârzieri minore de livrare raportate, probleme de stare cu câteva exemplare (pagini libere), unii utilizatori menționează că ecuațiile ar putea fi îmbunătățite.

(pe baza a 24 recenzii ale cititorilor)

Titlul original:

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition

Conținutul cărții:

Un text ideal atât pentru studenți, cât și pentru practicieni, aceasta este o introducere cuprinzătoare în domeniul microscopiei electronice cu baleiaj (SEM) și al microanalizei cu raze X.

Textul a fost utilizat în educarea a peste 3.000 de studenți la cursul scurt Lehigh SEM, precum și a mii de studenți și absolvenți la universități din întreaga lume. Autorii pun accentul pe aspectele practice ale tehnicilor descrise.

Subiectele abordate includ funcții controlate de utilizator ale microscoapelor electronice cu baleiaj și ale spectrometrelor cu raze X și utilizarea razelor X pentru analize calitative și cantitative. Capitole separate acoperă metodele de pregătire a probelor SEM pentru materiale dure, polimeri și specimene biologice.