Microscopie electronică cu baleiaj și microanaliză cu raze X: Ediția a treia

Recenzii ale cititorilor

Cartea privind microscopia electronică de scanare (SEM) primește recenzii pozitive covârșitoare din partea utilizatorilor, mulți dintre aceștia lăudându-i claritatea, organizarea și exhaustivitatea. Cartea este menționată ca fiind o referință definitivă atât pentru începători, cât și pentru utilizatorii experimentați. Utilizatorii apreciază ilustrațiile și stilul de scriere inteligibil, făcând conceptele complexe mai accesibile. Cu toate acestea, unele critici menționează verbozitatea și probleme cu starea unor exemplare primite.

⬤ Bine organizat și informativ
⬤ scriere clară și concisă
⬤ ușor de utilizat atât pentru începători, cât și pentru utilizatorii experimentați
⬤ ilustrații excelente
⬤ acoperire cuprinzătoare a fundamentelor și tehnicilor SEM
⬤ livrare rapidă
⬤ stare bună a exemplarelor noi.

⬤ Unele recenzii menționează uneori verbozitatea
⬤ câteva exemplare au fost primite în stare mai puțin impecabilă
⬤ timpul de livrare al Amazon a fost mai lung decât cel așteptat.

(pe baza a 24 recenzii ale cititorilor)

Titlul original:

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition

Conținutul cărții:

Un text ideal atât pentru studenți, cât și pentru practicieni, aceasta este o introducere cuprinzătoare în domeniul microscopiei electronice cu baleiaj (SEM) și al microanalizei cu raze X.

Textul a fost utilizat în educarea a peste 3.000 de studenți la cursul scurt Lehigh SEM, precum și a mii de studenți și absolvenți la universități din întreaga lume. Autorii pun accentul pe aspectele practice ale tehnicilor descrise.

Subiectele abordate includ funcții controlate de utilizator ale microscoapelor electronice cu baleiaj și ale spectrometrelor cu raze X și utilizarea razelor X pentru analize calitative și cantitative. Capitole separate acoperă metodele de pregătire a probelor SEM pentru materiale dure, polimeri și specimene biologice.